【技术简介】计算机断层成像技术（Computed Tomography,CT）通过采集被成像物体在各个角度下X射线的透射衰减投影信息，利用CT图像重建算法生成物体的衰减系数分布，实现在无需破坏或损伤物体的条件下获取其内部结构信息，被公认为工业无损检测领域的最佳手段。但目前使用的传统断层工业CT只采集各层切片的投影数据，重建后无法还原层间信息，造成信息丢失，影响检测准确性。本系统采用由微焦斑X射线源、高分辨率平板探测器、高精密机械系统和三维CT图像重建算法等软硬件组成的容积CT（Volume CT,VCT）成像技术，可以对精密部件的内部结构进行高分辨率各向同性的三维成像，精确重建其三维内部结构。系统整体技术达到国际先进水平。
【主要技术指标】最高空间分辨率：1um；量化精度：16bit量化；直线运动定位精度：<5um；旋转运动定位精度：<0.001度；CT采集方式：支持圆轨迹、螺旋轨迹、偏置扫描、感兴趣区域扫描等方式；三维图像重建软件：包含FDK，BPF，SART，ASD-POCS等各种主流重建算法。
【技术特点】系统拥有完全自主知识产权，可实现在各种扫描轨迹以及有限角度下快速精确CT图像重建，生成高分辨率、各向同性的三维图像，有效降低辐射剂量和扫描成本。
【适用范围】系统适用于材料科学、精密机械、电子器件、安全检查、逆向工程和生物科学等多领域的科学研究与工业分析。
【专利状态】授权专利17项
【技术状态】试生产、应用开发阶段
【合作方式】
（1）投资需求。工业2亿元，医用30亿。研发周期为12个月。
（2）合作研发。与具有生产射线产品资质的生产企业展开合作，共同开展技术开发、市场开拓等，并共享新产品有关权益。
（3）技术服务。利用技术为应用需求单位提供设计开发、难题诊断及技术攻关、设备及生产线研发、工程设计等服务。
【预期效益】可针对不同的应用需求进行专用化定制，实现对不同类别物体内部结构的高分辨率成像，具有广阔的推广应用前景。年产值预计：工业2-5亿元，医用5-10亿元。
【联系方式】李 磊 0371-81622163/13526859036
