一、技术开发单位
四川红华实业有限公司
二、技术简介
本技术是利用一定能量的带电粒子在磁场中发生偏转，偏转半径与带电粒子的质荷比有关，从而实现不同质荷比的带电粒子在磁场中发生分离。本技术利用这一原理精密测量待测样品中各同位素组份相对含量。
三、技术特点
能精密测量待测样品中各同位素组份相对含量。
四、技术水平
分辨本领从400～2000，可满足不同样品的分析需求。
五、可应用领域和范围
核工业、石油、地质和医学等领域的样品中同位素和组份相对含量的精密测定。
六、专利状态
200810078518.1 200810079030.0 200810078755.8
200610120903.9 200910124759.x
七、技术状态
批量生产阶段。
八、合作方式
根据洽谈情况而定。
九、投入需求
根据需方所需仪器的台数确定。
十、预期效益
气体同位素质谱计的各项技术指标达到国际先进水平，能有效提高同位素分析精度，具有良好的效益。
十一、联系方式
联 系 人：龚凯
电 话：13700930868
