一、技术开发单位
北京理工大学
二、技术简介
光学投影式三维形貌测量方法是一种非接触、高精度、快速获取被测物三维形貌的方法。该系统硬件部分包括小型化条纹投射装置、高分辨率数字CCD相机和控制电路，自行编写的软件拥有仪器控制、图像采集、分析和可视化等功能并嵌套相位解包裹专用算法。
三、技术特点
基于此方法开发研制而成的测量系统可在1分钟内获取测量区域10～400cm2内被测物三维形貌，测量分辨率可达到200μm。
四、技术水平
该系统的测量速度及精度处于国内较为先进的水平且造价低廉，科研和教学领域均可使用。
五、可应用领域和范围
加工制造业中的逆向工程、产品检测，生物医学中的器官测量与建模和服装制造业中的虚拟试衣等。
六、专利状态
独立知识产权。
七、技术状态
样品阶段。
八、合作方式
技术转让。
八、投入需求
需要技术需求方进一步投入资金支持。
九、预期效益
该套系统造价比国外同类试验设备造价低5～10倍左右，具有较大的潜在经济效益和应用空间。
十、联系方式
联 系 人：马少鹏
电 话：010-68912736
电子邮箱：masp@bit.edu.cn
